瀏覽 的方式： 作者 Chen, M. -R.
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
| 1-八月-2010 | Cross-sectional transmission electron microscopy studies for deformation behaviors of AlN thin films under Berkovich nanoindentation | Jian, Sheng-Rui; Chen, G. -J.; Chen, H. -G.; Jang, Jason S. -C.; Liao, Y. -Y.; Yang, P. -F.; Lai, Y. -S.; Chen, M. -R.; Kao, H. -L.; Juang, J. -Y.; 電子物理學系; Department of Electrophysics |
