瀏覽 的方式： 作者 Chen, Y. K.
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
| 2006 | Insight of stress effect on the ONO stack layer in a SONOS-type flash memory cell | Yeh, C. C.; Liao, Y. Y.; Wang, Tahui; Tsai, W. J.; Lu, T. C.; Kao, H. L.; Ou, T. F.; Chen, M. S.; Chen, Y. K.; Lai, E. K.; Shih, Y. H.; Ting, WenChi; Ku, Y. H. Joseph; Lit, Chih-Yuan; 電子工程學系及電子研究所; Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics |
