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National Chiao Tung University Institutional Repository
瀏覽 的方式： 作者 Chung, Jer-Fu
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顯示 1 到 2 筆資料，總共 2 筆
公開日期
標題
作者
1-一月-2009
Reliability Improvement of HfO(2)/SiON Gate Stacked nMOSFET using Fluorinated Silicate Glass Passivation Layer
Hsieh, Chih-Ren
;
Chen, Yung-Yu
;
Chung, Jer-Fu
;
Lou, Jen-Chung
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
1-一月-2009
Reliability Improvement of HfO2/SiON Gate Stacked nMOSFET using Fluorinated Silicate Glass Passivation Layer
Hsieh, Chih-Ren
;
Chen, Yung-Yu
;
Chung, Jer-Fu
;
Lou, Jen-Chung
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
