瀏覽 的方式： 作者 Ijen-Huang
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| 公開日期 | 標題 | 作者 |
| 1-一月-2018 | Chip-Level Characterization and RTN-Induced Error Mitigation beyond 20nm Floating Gate Flash Memory | Lin, T. W.; Ku, S. H.; Cheng, C. H.; Lee, C. W.; Ijen-Huang; Tsai, Wen-Jer; Lu, T. C.; Lu, W. P.; Chen, K. C.; Wang, Tahui; Lu, Chih-Yuan; 電子工程學系及電子研究所; Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics |
