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National Chiao Tung University Institutional Repository
瀏覽 的方式： 作者 Kuo, Shih-Hua
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顯示 1 到 4 筆資料，總共 4 筆
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標題
作者
2015
Random Pattern Generation for Post-Silicon Validation of DDR3 SDRAM
Yang, Hao-Yu
;
Kuo, Shih-Hua
;
Huang, Tzu-Hsuan
;
Chen, Chi-Hung
;
Lin, Chris
;
Chao, Mango C. -T.
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2015
Statistical Techniques for Predicting System-Level Failure using Stress-Test Data
Chen, Harry H.
;
Kuo, Shih-Hua
;
Tung, Jonathan
;
Chao, Mango C. -T.
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2013
Testing Retention Flip-flops in Power-gated Designs
Hsu, Hao-Wen
;
Kuo, Shih-Hua
;
Chang, Wen-Hsiang
;
Chen, Shi-Hao
;
Chang, Ming-Tung
;
Chao, Mango C. -T.
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2014
降壓超頻測試： 藉由晶片的錯誤行為來預測系統層級錯誤
郭士華
;
Kuo, Shih-Hua
;
趙家佐
;
Chao, Chia-Tso
;
電子工程學系 電子研究所
