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National Chiao Tung University Institutional Repository
瀏覽 的方式： 作者 Liou, Juin J.
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公開日期
標題
作者
1-Sep-2009
Electrostatic Discharge Robustness of Si Nanowire Field-Effect Transistors
Liu, Wen
;
Liou, Juin J.
;
Chung, Andy
;
Jeong, Yoon-Ha
;
Chen, Wei-Chen
;
Lin, Horng-Chih
;
電子工程學系及電子研究所
;
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics
2014
Failure Analysis of Gate-all-around Nanowire Field Effect Transistor Under TLP Test
Zhang, Guoyan
;
Dong, Aihua
;
Liu, Nie
;
Tian, Rui
;
Yang, Xuejiao
;
Liu, Zhiwei
;
Lee, Kohui
;
Lin, Horng-Chih
;
Liou, Juin J.
;
Wang Yuxin
;
交大名義發表
;
National Chiao Tung University
