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National Chiao Tung University Institutional Repository
瀏覽 的方式： 作者 Tsao, Shueh-Wen
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公開日期
標題
作者
1-Nov-2008
Anomalous Gate-Edge Leakage Induced by High Tensile Stress in NMOSFET
Liu, Po-Tsun
;
Huang, Chen-Shuo
;
Lim, Peng-Soon
;
Lee, Da-Yuan
;
Tsao, Shueh-Wen
;
Chen, Chi-Chun
;
Tao, Hun-Jan
;
Mii, Yuh-Jier
;
光電工程學系
;
顯示科技研究所
;
Department of Photonics
;
Institute of Display
