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目前位置:
國立陽明交通大學機構典藏
學術出版
期刊論文
標題:
Retrieving two-dimensional information of the subwavelength variation from far-field irradiance
作者:
Chu, Shu-Chun
Chern, Jyh-Long
光電工程學系
Department of Photonics
公開日期:
1-十月-2006
摘要:
An eigenvalue-problem approach of blind deconvolution is developed to retrieve the information of two-dimensional subwavelength variation from far-field irradiance with an embedded-aperture configuration with three detectors. A reference signal has been implemented to determine the scaling issue, and hence it allows the exact order of magnitude of the retrieved signals to be estimated correctly. It is shown that the subwavelength variations of a two-dimensional aperture can be identified with a precision of better than a 1% error ratio. (c) 2006 Optical Society of America.
URI:
http://dx.doi.org/10.1364/JOSAA.23.002471
http://hdl.handle.net/11536/11727
ISSN:
1084-7529
DOI:
10.1364/JOSAA.23.002471
期刊:
JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA A-OPTICS IMAGE SCIENCE AND VISION
Volume:
23
Issue:
10
起始頁:
2471
結束頁:
2475
顯示於類別:
期刊論文
IR@NYCU
CrossRef
遠場下確認次波長尺度變化的方法之研發(I) / 陳志隆;CHERN JYH-LONG
Characterization of one-dimension edge roughness from far-field irradiance at subwavelength-scale precision / Chu, Shu-Chun;Chern, Jyh-Long
利用遠場特徵回溯次波長尺度變化及提升其量測靈敏度之探討 / 朱淑君;Shu-Chun Chu;陳志隆;Jyh-Long Chern
Characterization of the signature of subwavelength variation from far-field irradiance / Chu, SC;Chern, JL
Detection of subwavelength slit-width variation with measurements in the far field by use of an embedded-aperture interferometer configuration / Chu, SC;Chern, JL
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