完整後設資料紀錄
| DC 欄位 | 值 | 語言 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | 林隆誼 | en_US |
| dc.contributor.author | Lin, Long-Yi | en_US |
| dc.contributor.author | 何照義 | en_US |
| dc.contributor.author | He, Zhao-Yi | en_US |
| dc.date.accessioned | 2014-12-12T02:01:39Z | - |
| dc.date.available | 2014-12-12T02:01:39Z | - |
| dc.date.issued | 1979 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://140.113.39.130/cdrfb3/record/nctu/#NT684457032 | en_US |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11536/51215 | - |
| dc.description.abstract | 本文共分四篇。第一篇為序言,說明研究動機、內容、方法、範圍。第二篇為目前抽 樣計劃與選別檢驗計劃理論介紹,說明與本研究有關之各抽樣理論。第三篇為貝氏定 理與不良率先驗分配介紹,說明貝氏定理之功能及不良率先驗分配之擬定方法。第四 篇為研究報告,包括本研究之結果、意義與在管理上之功用。 本文全都以嚴謹的教學演譯進行研究,內容如下: 作抽樣檢驗與選別檢驗時,除非將受驗批作全數檢驗,否則無法知道被允收批(或出 廠批)之確實不良率,因不知道P 之確實值,允收機率,ASN 與ATI 之確實值也就不 知道,因此管理者很難評估受驗批被判允收之機率、雙次抽樣檢驗之抽樣數與選別檢 驗之總檢驗數。 而本研究係視受驗批不良率為一隨機變數。並以過去的資料擬出它的不良率PDF ,稱 為不良率先驗分配。然後應用貝氏定理求出經抽樣檢驗(或選別檢驗)後之被允收批 (或出廠批)之不良率PDF 。而且,因允收機率,ASN 與ATI 皆為受驗批不良率P 之 函數。P 既然為隨機變數,允收機率、ASN 與ATI 也都是隨機變數而具有期望值了。 本文也研究出各期望值之數學式供管理者評估受驗批被判允收的機率、雙次抽樣之抽 樣數與選別檢驗之檢驗數。 | zh_TW |
| dc.language.iso | zh_TW | en_US |
| dc.subject | 抽樣計劃 | zh_TW |
| dc.subject | 選別檢驗計劃 | zh_TW |
| dc.subject | 受驗批不良率 | zh_TW |
| dc.subject | 管理學 | zh_TW |
| dc.subject | 資訊學 | zh_TW |
| dc.subject | 管理 | zh_TW |
| dc.subject | MANAGEMENT | en_US |
| dc.subject | INFORMATION | en_US |
| dc.title | 抽樣計劃與選別檢驗計劃研究-受驗批不良率具先驗分配 | zh_TW |
| dc.type | Thesis | en_US |
| dc.contributor.department | 管理科學系所 | zh_TW |
| 顯示於類別: | 畢業論文 | |

