統計資料

總造訪次數

檢視
可同時量測光學晶體厚度及光軸之影像式偏極光測量方法 119

本月總瀏覽

八月 2025 九月 2025 十月 2025 十一月 2025 十二月 2025 一月 2026 二月 2026
可同時量測光學晶體厚度及光軸之影像式偏極光測量方法 0 1 0 1 0 6 0

檔案下載

檢視
450901.pdf 3

國家瀏覽排行

檢視
中國 91
美國 17
越南 4
台灣 3
香港 1
愛爾蘭 1

縣市瀏覽排行

檢視
Shenzhen 91
Menlo Park 12
Hanoi 4
Kensington 3
Taipei 2
Buffalo 1
Central District 1
Edmond 1
Kaohsiung 1