| 标题: | 先进制程技术之设计与可靠度提升研究---子计画四：奈米级制程的电热模拟与动态温度模型建立(I) Compact Thermal Modeling and Electro-Thermal Simulation for Nano-Scale Cmos Technology(I) |
| 作者: | 阙河鸣 Chiueh Herming 交通大学电信工程系 |
| 公开日期: | 2006 |
| 官方说明文件#: | NSC95-2220-E009-029 |
| URI: | http://hdl.handle.net/11536/89046 https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1279659&docId=234498 |
| 显示于类别： | Research Plans |
