标题: 先进制程技术之设计与可靠度提升研究---子计画四:奈米级制程的电热模拟与动态温度模型建立(I)
Compact Thermal Modeling and Electro-Thermal Simulation for Nano-Scale Cmos Technology(I)
作者: 阙河鸣
Chiueh Herming
交通大学电信工程系
公开日期: 2006
官方说明文件#: NSC95-2220-E009-029
URI: http://hdl.handle.net/11536/89046
https://www.grb.gov.tw/search/planDetail?id=1279659&docId=234498
显示于类别:Research Plans